بررسی دقت و اعتبار روش توموگرافی اسپیرال در ارزیابی محل قرارگیری ایمپلنت در فک پایین : مطالعه آزمایشگاهی

بررسی دقت و اعتبار روش توموگرافی اسپیرال در ارزیابی محل قرارگیری ایمپلنت در فک پایین : مطالعه آزمایشگاهی دکترشهریار شهاب1- دکترشکرانه قاضی مقدم2- دکتر فرید ابوالحسنی3- دکتر محمدجواد خرازی فرد4- دکترشهرام نامجوی نیک51- استادیار گروه آموزشی رادیولوژی دهان و فک و صورت دانشکده دندانپزشکی دانشگاه شاهد2- دندانپزشک3- دانشیار گروه آموزشی جنین شناسی دانشکده پزشکی دانشگاه علوم پزشکی تهران4- مشاور آمار و متدولوژی دانشکده و مرکز تحقیقات دندانپزشکی دانشگاه علوم پزشکی تهران5- استادیار گروه آموزشی ایمپلنتولوژی دانشکده دندانپزشکی دانشگاه شاهد. چکیده زمینه و هدف: مزیت اصلی روشهای توموگرافیک مقطعی بر رادیوگرافی های پریاپیکال، پانورامیک یا سفالومتریک، در تصویربرداری از خلف مندیبل ارائه اطلاعات نسبتاً دقیق در مورد کرست آلوئولار، ارتفاع و پهنای استخوان و رابطه فضایی با کانال مندیبولار می باشد. هدف از این مطالعه، بررسی دقت و اعتبار روش توموگرافی معمولی اسپیرال در ارزیابی محل قرارگیری ایمپلنت در فک پایین می باشد. روش بررسی: در این مطالعه آزمایشگاهی ابتدا ده قطعه استخوان فک پایین که دچار بیدندانی کامل یا دارای چند ناحیه بیدندانی بودند، انتخاب گردید. سپس نقاطی در چهار ناحیه قدام، کانین، پرمولر و مولر جهت تصویربرداری انتخاب شد و از این محلها تصویربرداری با روشهای توموگرافی اسپیرال معمولی و کامپیوتری به عمل آمد. مقادیر فاصله کرست آلوئولار تا بوردر فوقانی کانال مندیبولار، ارتفاع مندیبل و پهنای مندیبل در میانه ارتفاع اندازه گیری شده، توسط یک رادیولوژیست دهان و فک و صورت از روی تصاویر اندازه گیری گردید. یافته ها: با مقایسه مقادیر حاصل از توموگرافی معمولی با مقادیر حاصل از تصاویر سی تی اسکن به عنوان استاندارد طلایی این نتیجه به دست آمد که میانگین قدر مطلق خطادر مقادیر حاصل از توموگرافی معمولی در نواحی قدام، کانین، پر مولر و مولر، در اندازه گیری ارتفاع به ترتیب 43/1، 74/0، 87/0 و 81/0 میلی متر و در اندازه گیری پهنا به ترتیب 21/1، 92/0، 76/0 و 82/0 میلی متر می باشد. در مجموع میانگین قدر مطلق خطا در اندازه گیری ارتفاع 65/0 میلی متر بوده و در اندازه گیری پهنا نیز 91/0 میلی متر می باشد، که بجز مقادیر ناحیه قدام، سایر مقادیر در محدوده 1± میلی متر قرار دارند. در ناحیه قدام در هر دو مورد اندازه گیری ارتفاع و پهنا تمایل به تخمین کمتر از مقدار واقعی وجود داشت. همچنین اعتبار روش توموگرافی اسپیرال معمولی در اندازه گیری ارتفاع 49/90% و در اندازه گیری پهنا 02/73% محاسبه شد، که هر دو از نظر آماری معنی دار بوده (001/0> p ) و بیانگر اعتبار بالای این روش تصویربرداری می باشند. نتیجه گیری: توموگرافی معمولی اسپیرال در اندازه گیری ارتفاع و پهنا در فک پایین از دقت و اعتبار کافی برخوردار می باشد. کلید واژه‎ها: توموگرافی اسپیرال – سی تی اسکن اسپیرال – ایمپلنت دندانی – فک پایین. وصول مقاله: 7/12/1386/1383 اصلاح نهایی: 22/12/1387 پذیرش مقاله: 24/12/1387/1385 نویسنده مسئول: دکتر شهریار شهاب، گروه آموزشی رادیولوژی دهان و فک و صورت دانشکده دندانپزشکی دانشگاه شاهد e.mail:[email protected]